Responsables techniques: Alain BARREAU +(33) 02 40 37 64 26 Stéphane GROLLEAU +(33) 02 40 37 39 94     Responsable administratif: Alain LAFOND +(33) 02 40 37 39 45 Centre de Microcaractérisation

 

Le Service commun de microscopie électronique à balayage et de microanalyse X (SMEBM) est hébergé par le Centre de Microcaractérisation de l'Institut des Matériaux Jean Rouxel. Sa mission est de mettre à la disposition des chercheurs de l'Université et des industriels de la région des outils d'analyse morphologique et de composition chimique à l'échelle microscopique et submicroscopique.

 

Vue des microscopes électroniques à balayage du SMEBM. MEB à effet de champ dédié à l'imagerie haute résolution (a) et MEB pour l'analyse élémentaire (b).
(a)	(b)

Répartition du temps d'utilisation des microscopes du SMEBM
La microscopie électronique à balayage (MEB) est un outil d'investigation de la matière indispensable à un grand nombre d'activités de recherche (sciences de la matière, sciences de la vie et de la Terre …). La première utilisation de la microscopie électronique à balayage est la réalisation d'images à une échelle de plus en plus petite. Ces études sont réalisées à l'aide du microscope JEOL 6400F qui est équipé d'une source à effet de champ permettant d'obtenir un faisceau d'électrons d'une très grande finesse et d'atteindre ainsi une résolution spatiale de quelques dizaines de nanomètres. Ce type de microscope n'est disponible dans aucun autre laboratoire de l'Université de Nantes et donne au SMEBM un atout recherché par beaucoup d'utilisateurs. Les photos 1 à 4 montrent quelques exemples d'applications de cette technique.
Photo 1 : Lignes de 50 nm gravées dans SiO2. Grandissement 50 000 fois.	Photo 2 : Oxyde de manganèse pour batterie à insertion de lithium. Grandissement 4 300 fois.
Photo 3 : Détail d'une bactérie en cours de division. Grandissement 50 000 fois.	Photo 4 : Détail d'une micro-algue, la diatomée. Grandissement 14 000 fois.
	Photos : © Alain Barreau

 

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