DIFFRACTION PAR LES MATERIAUX POLYCRISTALLINS

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Notre laboratoire, fortement impliqué dans le domaine de la cristallographie des phases polycristallines, propose deux formations. La première de cinq jours incluant, à la demande de plusieurs participants, des ateliers spécifiques d'analyse quantitative et de détermination structurale ab initio. La seconde, de deux jours, s'adressant à des utilisateurs confirmés.

 

 

En savoir plus

Niveau 1

Niveau 2

22ème année

Du 9 au 13 septembre 2013

6ème année

2014 (dates non encore connues)

Contacts

Philippe Deniard (organisateur) Tel : 02 40 37 39 38
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Richard Baschera (secrétariat) Tel : 02 40 37 39 09
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NIVEAU 1

Présentation

En 2013 aura lieu la 22ème formation permanente concernant la diffraction des matériaux polycristallins par les rayons X, les neutrons et les électrons, organisée à Nantes. Cette pérennité montre bien l'intérêt porté par la communauté scientifique aux techniques permettant non seulement les affinements structuraux mais également l'étude des tailles des cristallites, des micro-déformations, et des proportions de mélanges de phases, dans des systèmes polyphasés. Ce dernier aspect autorise des analyses de phases quantitatives non destructives d'une grande précision et donc industriellement très attractives, même dans le cas où des mesures en ligne sont envisagées. Notons que des échantillons constitués de mélanges de phases amorphes et de phases cristallisées de structure connue sont également analysables (cas par exemple des vitro-cristallins). De tels résultats sont accessibles grâce à la précision des diffractomètres de laboratoire actuels, ainsi que par l'utilisation de programmes de traitement dont les performances ne cessent d'évoluer.

Notre laboratoire, fortement impliqué dans le domaine de la cristallographie des phases polycristallines, propose une formation de cinq jours incluant, à la demande de plusieurs participants, des ateliers spécifiques d'analyse quantitative et de détermination structurale ab initio. Des intervenants de plusieurs laboratoires sont associés dans notre formation, de façon à disposer des meilleurs spécialistes dans le domaine, pour couvrir l'ensemble des demandes des stagiaires. Afin de proposer un encadrement efficace, cette formation est limitée à 20 participants, les inscriptions supplémentaires étant reportées sur l'année suivante.

D'autre part, nous allons continuer à proposer notre formation complémentaire de deux jours, mise en place en septembre 2007 et destinée aux personnes ayant déjà des connaissances solides en diffraction sur poudre et plus particulièrement à d'anciens participants. Pour des raisons pratiques d'organisation, cette formation n'est plus dispensée la semaine suivant la formation initiale de cinq jours mais au mois de mars suivant. Elle fera l'objet de l'envoi d'un courrier spécifique.

Programme 2013

Fiche Inscription 2013


NIVEAU 2

Présentation

Depuis maintenant 21 ans, nous organisons, à Nantes, une formation de diffraction des matériaux polycristallins par les rayons X, les neutrons et les électrons. Suite à la demande d'anciens participants dont vous faites peut-être partie, nous avons mis en place deux journées supplémentaires de formation destinées à l'approfondissement des connaissances déjà acquises dans le domaine. Ces deux journées s'adressent donc exclusivement à des personnes ayant déjà de solides connaissances en diffraction sur poudre.

Au cours de cette session seront abordés d'une part, les problèmes liés à la détermination structurale ab initio, étape préliminaire à tout affinement lorsque aucune hypothèse structurale n'est disponible et, d'autre part, à l'analyse PDF (Pair Distribution Function) permettant un contrôle efficace de la validité de l'affinement structural.

Pour l'ensemble des thèmes abordés, une large part du programme sera consacrée, comme à l'accoutumée, à des séances de travaux pratiques.

Programme 2013 (pour information)

 

 

 

Utilisation de casaXPS

Suite au succès de la formation "XPS Data Fitting with CasaXPS" édition 2011 à Nantes, avec la participation de Neal Fearley, auteur de CasaXPS, nous organisons une école thématique du CNRS. Cette formation en anglais aura lieu à Roscoff, du 8 au 12 juillet 2013 (4,5 jours) et accueillera 50 personnes.

Elle comprendra :

  • des cours théoriques sur la spectroscopie et l'imagerie XPS.
  • des cours à la pratique du logiciel par CasaXPS par Neal Fairley
  • des sessions de travaux pratiques sur CasaXPS encadrés par 7 enseignants. Il est demandé aux participants d'apporter si possible un portable sous Windows (au moins 1 pour 2)
  • une session de posters et anti-posters afin d'exposer des résultats préliminaires et d'aborder des problématiques pratiques
  • une journée de "brainstorming" sur des cas difficiles

Cette école thématique s'adresse à des scientifiques industriels et académiques (doctorants compris) de toutes nationalités.

Les objectifs de cette formation sont :

  • De donner une vue d'ensemble de la spectroscopie XPS, en allant de la technique de mesure à l'interprétation des données
  • D'explorer les possibilités du traitement de données avec le logiciel CasaXPS
  • De créer une base de données XPS incluant aussi bien des données expérimentales que leurs analyses
  • De traiter des cas expérimentaux difficiles, proposés par les participants.

Plus de détails sur le site www.cnrs-imn.fr/ETxps