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Retour sur le workshop Gatan...

Un workshop international sur l’apport des caméras à détection directe des électrons à la spectroscopie de perte d’énergie des électrons (EELS) a eu lieu à l’IMN les 2 et 3 octobre.
Il a rassemblé une quinzaine de scientifiques européens (Angleterre, Belgique, Espagne, France, Suisse) spécialistes de la technique EELS.

 

Gatan1

 

Gatan2            Gatan3

 

Après avoir présenté l’intérêt de cette nouvelle technologie, Paolo Longo de la société Gatan a démontré toutes les capacités de ce type de caméra en spectroscopie et en imagerie à très faible dose sur le microscope de l’IMN Nant’Themis (équipé d’un GIF Quantum et d’une caméra K2) en caractérisant les échantillons apportés par les participants.

Gatan4

STEM-EELS monochromaté sur un matériau d’électrode (type NMC).
Spectres du seuil Ni L en surface (rouge) et dans le grain (en bleu).
Au centre, cartographie du degré d’oxydation du Ni à partir de ces 2 spectres de référence (MLLS fitting).

 

Pour plus d’informations sur la configuration du Nant’Themis : https://www.cnrs-imn.fr/index.php/equipements/item/microscopie-electronique-a-transmission

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