Nanomécanique

Stephane Cuenot, Chris Ewels, Bernard Humbert (??)

La microscopie de force atomique (AFM) et plus généralement les microscopies champ proche sont fortement utilisées pour caractériser la surface des matériaux. En effet, ces microscopies permettent d’imager très précisément la surface de tous types de matériaux de l’échelle micrométrique jusqu’à l’échelle moléculaire ou atomique. Cependant, l’originalité et l’apport important de ces microscopies résident dans la possibilité de mesurer des propriétés physiques à l’échelle nanométrique. La pointe de l’AFM permet de mesurer localement différentes propriétés qui ne peuvent être sondées par d’autres techniques : propriétés de frottement, d’adhésion, composition chimique, propriétés magnétiques et électriques, propriétés mécaniques…

L'objectif principal de notre travail est de sonder les propriétés mécaniques d'objets de taille nanométrique afin d’étudier l’influence de leur taille réduite sur leurs propriétés mécaniques. En parallèle, nous déformons de manière contrôlée des nano-objets individuels pour (i) mesurer leurs propriétés élastique et de frottement, (ii) étudier les effets de la déformation sur leurs propriétés physique.