Séparation de l'interface dans les métaux
Dans les métaux et les alliages, les atomes de soluté se séparent parfois des interfaces (surfaces, limites des grains, limites interphasiques). Comme cela modifie la cohésion de l'interface, cela peut entraîner une dégradation spectaculaire des propriétés mécaniques du matériau.
Notre travail vise à:
- Comprendre et modéliser l'isolement de l'interface dans des conditions d'équilibre et de non-équilibre.
- Déterminer (à partir des expériences) les paramètres thermodynamiques et cinétiques de la ségrégation dans divers systèmes et conditions, y compris les systèmes modèles ainsi que les matériaux et procédés industriels.
- Développer de nouvelles approches expérimentales pour la quantification de la ségrégation d'interface
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Spectre Auger acquis sur une surface de rupture en acier inoxydable. La ségrégation des limites de grain du phosphore est démontrée. |
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Observation NanoSIMS de la ségrégation des limites de grain de soufre dans le nickel. |
Publications récentes
Ultra-fast sulphur grain boundary segregation during hot deformation of nickel. M. Allart, F. Christien, R. Le Gall, Acta Materialia 61 (2013) 7938-7946.
A multi-technique investigation of sulphur grain boundary segregation in nickel. M. Allart, F. Christien, R. Le Gall, P. Nowakowski, C.R.M. Grovenor, Scripta Materialia 68 (2013) 793-796.
Quantification of equilibrium grain boundary segregation by NanoSIMS analysis of bulk samples. F. Christien, C. Downing, K.L. Moore, C.R.M. Grovenor, Surface and Interface Analysis 44 (2012) 377-387.
Ultra-fast grain boundary diffusion and its contribution to surface segregation on a martensitic steel. Experiments and modelling. F. Christien, R. Le Gall, Surface Science 605 (2011) 1711-1718
Measuring grain boundary segregation using Wavelength Dispersive X-ray Spectroscopy: further developments. P. Nowakowski, F. Christien, M. Allart, Y. Borjon-Piron, R. Le Gall, Surface Science 605 (2011) 848-858.
Quantifying the effect of fracture surface topography on the scattering of grain boundary segregation measurement by Auger electron spectroscopy. F. Christien, Y. Borjon-Piron, R. Le Gall, S. Saillet, Materials Characterization 61 (2010) 73-84.
Livres
Endommagement interfacial des métaux - Ségrégation interfaciale et conséquences. G. Saindrenan, R. Le Gall, F. Christien, Edition Ellipses, Collection Technosup. 256 pages. 2002.
The use of Electron Probe MicroAnalysis to determine the thickness of thin films in materials science. F. Christien, E. Ferchaud, P. Nowakowski, M. Allart, In "X-Ray Spectroscopy" (2012) Shatendra K. Sharma (Ed.), ISBN: 978-953-307-967-7, InTech.
Collaborations actuelles ou récentes
- Department of Materials, University of Oxford, UK (Prof. C. Grovenor)
- Aperam, Imphy, France.